XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理
【摘要】
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。
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X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個(gè)穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,內(nèi)層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會(huì)導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時(shí)處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會(huì)躍遷到該低能量電子殼層來填補(bǔ)相應(yīng)的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個(gè)過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
λ=K(Z-S)-2
式中K和S是常數(shù)。而根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,每個(gè)光具有的能量為:
E=hν=hC/λ
式中,E為X射線光子的能量,單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。將樣品中有待分析的各種元素利用X射線轟擊使其發(fā)射其特征譜線,經(jīng)過狹縫準(zhǔn)直,使其近似平行光照射到分光晶體上,對己知其面間距為d的分光晶體點(diǎn)陣面上的輻射加以衍射。依據(jù)布拉格定律,適用公式nλ=Zdsinθ。
對于晶體的每一種角位置,只可能有一種波長的輻射可被衍射,而這種輻射的強(qiáng)度則可用合適的計(jì)數(shù)器加以測量。分析樣品時(shí),鑒定所發(fā)射光譜中的特征譜線,就完成了定性分析;再將這些譜線的強(qiáng)度和某種適當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)的譜線強(qiáng)度進(jìn)行對比,就完成了定量分析。
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